X-Ray膜厚測(cè)試儀結(jié)構(gòu)緊湊,堅(jiān)固耐用,是用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單,快速,無損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。具有測(cè)量誤差小,可靠性高,穩(wěn)定性好,操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè),金屬加工業(yè),化工業(yè),商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，全面涵蓋五金，電鍍，端子，連接器，PCB 廠商等電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)。